가. 정의 및 필요성
(1) 정의

☐ 마이크로LED 검사/리페어 기술은 제작된 화소 칩 웨이퍼, 인터포저 및
패널에서 전기적 광학적 검사를 통해 불량화소를 검출하고 이를 정상화소로
대체하는 리페어 기술

❍ 마이크로LED 검사 기술 범위
- 20um 이하 크기와 10um 이하 두께를 가지는 마이크로LED의 EL 특성을 데
미지 없이 고정밀/고속으로 측정하는 EL 검사 기술
- 전극에 접속하지 않고 EL 특성을 검사하는 EL Damage Free 검사 기술
- 검사 시 발생하는 손실을 최소화하는 PL/AOI 검사 기술로 구분

❍ 마이크로LED 리페어 기술 범위
- 불량 칩을 정상 칩으로 교체하는 리페어 기술
- 불량 칩을 제거하고 실장되어 있는 여분의 칩 동작을 전기적으로 선택하는
Redundancy 기술
- 여분의 칩 동작을 광학적으로 선택하는 QD 보상 기술

(2) 기술개발 필요성

☐ 마이크로LED 디스플레이 확장

❍ (Post OLED) 많은 글로벌 디스플레이 제조사와 애플, 마이크로소프트, 매타버스
(페이스북), 구글과 같은 빅테크 기업들이 마이크로LED 디스플레이 개발에 투자

❍ 5G의 보급과 함께 정보화 사회의 확장으로 정보전달 방식과 정보와 함께 전
달되는 사용자 경험이 중요시되고 있으며, 사용자의 기대수준이 높아짐에
따라 정보전달 장치의 고기능화와 플랫폼에 최적화된 새로운 정보 디스플레
이에 대한 요구가 증대

❍ 저소비전력과, 빠른 응답속도, 고속 영상 구현이 가능하며, 내습·내산화
특성이 우수(무기물 기반)해서 긴 수명 확보가 가능한 마이크로LED 디스플
레이의 확장 기대

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